基于分类算法的集成电路芯片缺陷分析

• 作者: 孔繁珍 张莹 龚涛
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路设计 分类算法 硬件缺陷分析
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 14-15
• 页数: 2页
• 分类号: TN402
• 字数: 2395字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2019.10.006

摘要

从电路故障检测的研究现状、硬件木马检测的研究现状入手,介绍缺陷检测技术的研究现状.基于小波分析的特性提取方法,分析了集成电路芯片的硬件故障分类方法.研究硬件电路故障分类的仿真实验.总结集成电路芯片的硬件故障分类方法对分析硬件缺陷带来的积极影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张莹		2	0	0.0	0.0
2	龚涛		2	0	0.0	0.0
3	孔繁珍		1	0	0.0	0.0