用于继电保护开出回路高加速寿命试验问题的分析与改进方法

• 作者: 吴凯 岳峰 石建
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高加速寿命试验 开出回路 光耦 继电保护
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 应用
• 页码范围: 68-71
• 页数: 4页
• 分类号: TM774
• 字数: 3063字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2019.03.013

摘要

变电站就地化保护装置运行环境相对传统保护装置更为严苛,设备运行可靠性受到极大关注,相关设备开展高加速寿命试验(HALT)成为必然.针对某继电保护装置HALT高温开出回路故障,从开出回路设计依据、工作及自检原理进行说明,通过对器件的测试和电路理论分析,确定是大量光耦元件并联电路的合并漏电流导致开出自检误报故障.根据分析结果对电路参数进行改进,实测结果验证了改进方案的正确性,提高了保护装置的运行可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石建		4	8	2.0	2.0
2	岳峰		3	3	1.0	1.0
3	吴凯		2	0	0.0	0.0