PVD薄膜传感器裂纹检测概率测定与分析

• 作者: 何宇廷 侯波 刘凯 崔荣洪 牛欢
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 金属结构 疲劳裂纹 检测概率 薄膜
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 160-166
• 页数: 7页
• 分类号: V215.6|TP212.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.11868/j.issn.1001-4381.2018.000781

摘要

为利用PVD(physical vapor deposition)薄膜传感器对金属结构裂纹的检测能力进行定量化表征,首先采用正交实验优化后适用于LY12 CZ铝合金的工艺参数,在3组中心孔板实验件上分别制备币状、1mm宽同心双环状、0.5mm宽同心三环状3种不同形状的PVD薄膜传感器.随后,在实验室条件下开展疲劳裂纹在线监测实验,对比分析PVD薄膜传感器电位输出信号和显微镜观测结果.最后,采用改进的裂纹尺寸间隔法和二项分布检测模型绘制PVD薄膜传感器总体与不同形状的裂纹检测概率曲线.PVD薄膜传感器在95％置信水平下,对长度大于0.99mm的裂纹检出概率可达93.56％;相比于币状薄膜传感器,同心环状薄膜传感器对小于0.5mm的裂纹更为敏感,且传感器通道宽度越细,对小尺寸裂纹的检测概率越高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宇廷	空军工程大学航空工程学院	141	567	12.0	14.0
2	崔荣洪	空军工程大学航空工程学院	21	96	6.0	8.0
3	侯波		5	13	3.0	3.0