基于有限元分析的两极旋转插头可靠性设计

• 作者: 张佳路 成瀚 苏彩虹 郭远平
• 来源期刊: 日用电器
• 关键词: 两极旋转插头 可靠性 有限元分析 寿命测试
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 技术·创新
• 页码范围: 31-35
• 页数: 5页
• 字数: 2222字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6079.2019.12.009

摘要

本文介绍了一种两极旋转插头的设计方案,通过有限元分析对零部件受力情况仿真,旋转过程中电源线摆动角度计算,进行可靠性设计,通过对旋转力测试,插头寿命测试对结构可靠性进行验证.