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摘要:
通过故意损坏IGBT/MOSFET功率开关来研究栅极驱动器隔离栅的耐受性能.
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文献信息
篇名 现代IGBT/MOSFET栅极驱动器提供隔离功能的最大功率限制
来源期刊 电子产品世界 学科
关键词 IGBT MOSFET 栅极驱动器 耐受性 隔离
年,卷(期) 2019,(5) 所属期刊栏目 热门技术
研究方向 页码范围 31-35
页数 5页 分类号
字数 3675字 语种 中文
DOI
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作者信息
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1 Bernhard Strzalkowski 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
IGBT
MOSFET
栅极驱动器
耐受性
隔离
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品世界
月刊
1005-5517
11-3374/TN
大16开
北京市复兴路15号138室
82-552
1993
chi
出版文献量(篇)
11765
总下载数(次)
14
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