针对AES密钥扩展的电压故障注入攻击

• 作者: 张恺健 张磊 李秀滢 段晓毅 王建新 田丽娜
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 故障注入 电压 密钥扩展 循环语句 密文
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 安全技术
• 页码范围: 112-118
• 页数: 7页
• 分类号: TP393
• 字数: 5288字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19678/j.issn.1000-3428.0051692

摘要

针对高级加密标准(AES)算法,提出一种简单高效的故障注入攻击方法.通过瞬时降低密码芯片供电电压产生低压毛刺,使芯片在密钥扩展函数中进行密钥赋值时跳过赋值循环语句,造成密钥赋值错误,从而缩短参与运算密钥的未知字节长度.结合注入故障后输出的错误密文,可通过穷举猜测的方式恢复初始密钥未知字节.攻击测试结果表明,通过该方法执行一次有效故障注入攻击能得到4字节长度初始密钥,即对于128位AES算法,攻击者仅需猜测4×232次就能到初始密钥.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊	北京电子科技学院电子信息工程系	30	60	5.0	6.0
2	李秀滢	北京电子科技学院电子信息工程系	16	65	4.0	8.0
3	王建新	北京电子科技学院电子信息工程系	17	61	4.0	7.0
4	段晓毅	北京电子科技学院电子信息工程系	18	24	3.0	4.0
5	田丽娜	北京电子科技学院电子信息工程系	1	0	0.0	0.0
6	张恺健	北京电子科技学院电子信息工程系	1	0	0.0	0.0