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摘要:
Gallium oxide (Ga2O3), a typical ultra wide bandgap semiconductor, with a bandgap of ~ 4.9 eV, critical breakdown field of 8 MV/cm, and Baliga's figure of merit of 3444, is promising to be used in high-power and high-voltage devices. Recently, a keen interest in employing Ga2O3 in power devices has been aroused. Many researches have verified that Ga2O3 is an ideal candidate for fabricating power devices. In this review, we summarized the recent progress of field-effect transistors (FETs) and Schottky barrier diodes (SBDs) based on Ga2O3, which may provide a guideline for Ga2O3 to be preferably used in power devices fabrication.
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文献信息
篇名 Review of gallium oxide based field-effect transistors and Schottky barrier diodes
来源期刊 中国物理B(英文版) 学科
关键词 gallium oxide (Ga2O3) field-effect transistors (FETs) Schottky barrier diodes (SBDs)
年,卷(期) 2019,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 65-82
页数 18页 分类号
字数 语种 英文
DOI 10.1088/1674-1056/28/1/017105
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
gallium oxide (Ga2O3)
field-effect transistors (FETs)
Schottky barrier diodes (SBDs)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国物理B(英文版)
月刊
1674-1056
11-5639/O4
北京市中关村中国科学院物理研究所内
eng
出版文献量(篇)
17050
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