电路特性测试系统的设计与实现

• 作者: 刘清宇 王彩红
• 来源期刊: 福建电脑
• 学科: 工学
• 关键词: 智能仪器 电路特性测试 FPGA Qsys
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 应用与开发
• 页码范围: 87-88
• 页数: 2页
• 分类号: TP216
• 字数: 1434字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16707/j.cnki.fjpc.2019.12.031

摘要

随着智能测量仪器的迅速发展,对处理信号的速度和精度也提出了更高要求.本文针对电路特性测量的准确性、实时性的特点,设计了一种基于FPGA的电路测试系统,在Qsys系统中构建Nios II软核处理器.实验证明,本电路测试系统具有较高准确性,能够实时采集电路数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王彩红	河南工业大学信息科学与工程学院	25	66	3.0	7.0
2	刘清宇	河南工业大学信息科学与工程学院	1	0	0.0	0.0