X射线激励对SF6中直流针尖放电的影响

• 作者: 张强 张瀚驰 李成榕 马国明
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 针尖缺陷 直流电压 局部放电 特高频
• 年，卷（期）: 2019,（24）
• 所属期刊栏目: 高电压与绝缘
• 页码范围: 5282-5288
• 页数: 7页
• 分类号: TM83
• 字数: 4449字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.181802

摘要

国外已有研究表明,X射线激励能影响固体绝缘中微小气隙缺陷局部放电的特性.为了研究X射线激励对SF6气体中针尖缺陷局部放电的影响,搭建了基于实体252kV GIS的局部放电试验平台,设计了GIS中常见的针尖放电模型,基于特高频方法测量了X射线激励下直流电压针尖缺陷的放电特性.对该文设计的长15mm、曲率半径为50μm的针尖缺陷,X射线能够分别降低正、负极性下的针尖放电起始电压约28.6％和15.6％;提高正、负极性放电脉冲重复率(正极性5.3～17.0倍,负极性80.4～166.7倍);降低正极性放电的特高频信号幅值约35.3％.X射线能够电离SF6气体,在针尖缺陷附近产生光电离,为放电区域提供有效电子,从而降低放电统计时延,降低局部放电的起始电压,实现局部放电特征的外部调控.研究结果可以为直流GIS/GIL绝缘缺陷局部放电检测提供一种手段.