采样算法对ADC采集性能的影响分析

• 作者: 吕明钊 孙爱中 闫昆 高浩
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: ADC采集电路 频率偏差 采样算法
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 57-58,104
• 页数: 3页
• 字数: 3022字
• 语种: 中文

摘要

在某计算机的测试验证中,部分模块的数模转换系统出现有效位数(简称ENOB)超差现象.通过分析和仿真验证确定为产品晶振频率在手册允许范围内产生较大偏移的条件下,由于使用了相干采样算法计算ENOB值,导致ENOB测试值降低.通过选用非相干采样算法,解决了有效位数测试超差问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫昆		3	0	0.0	0.0
2	吕明钊		3	0	0.0	0.0
3	孙爱中		3	0	0.0	0.0
4	高浩		2	0	0.0	0.0