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红外LED芯片的断裂失效研究
红外LED芯片的断裂失效研究
基本信息来源于合作网站，原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要：
本文重点研究了红外LED芯片断裂的失效现象,通过扫描电子显微镜(SEM)排查芯片是否存在暗裂,通过DSC测试发现失效品的环氧树脂存在固化不充分的问题,从而找到了产品失效的根本原因.
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研究主题发展历程
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红外LED
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研究起点
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期刊影响力
电子测试
主办单位：
北京自动测试技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1000-8519
CN：
11-3927/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市100098－002信箱
邮发代号：
82-870
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
19588
总下载数（次）
63
总被引数（次）
36145
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