基于错误特征的MLC闪存最小和译码算法

• 作者: 张旋 慕建君 焦晓鹏
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多级单元 随机电报噪声 数据保持噪声 低密度校验码 最小和译码
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 通信与网络
• 页码范围: 1887-1895
• 页数: 9页
• 分类号: TN911.22
• 字数: 8267字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001‐506X.2019.08.29

摘要

由于多级单元(multi‐level‐cell ,MLC)闪存存储信道中随机电报噪声(random telegraph noise ,RTN) 、数据保持噪声(data retention noise ,DRN )和单元间干扰(cell‐to‐cell interference ,CCI)严重影响了 M LC闪存阈值电压,从而导致获取的对数似然比(log‐likelihood ratio ,LLR)不够准确而影响了软判决译码时M LC闪存的低密度校验(low‐density parity‐check codes ,LDPC )码的性能.在深入分析M LC闪存错误特征的基础上,通过利用M LC阈值电压的熵函数计算相邻 M LC阈值电压分布的重叠区域来确定存储比特的可靠度,设计了 M LC存储比特LLR值的动态更新策略.从而,提出了RTN 、DRN和CCI噪声模型下适用于MLC闪存的LDPC码改进的最小和译码算法.仿真结果表明,与传统的LDPC码最小和译码算法相比较,M LC闪存信道下所改进的M LC闪存的LDPC码最小和译码算法具有更好的译码性能与更少的平均迭代次数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	慕建君	西安电子科技大学计算机科学与技术学院	34	249	6.0	15.0
2	焦晓鹏	西安电子科技大学计算机科学与技术学院	13	113	3.0	10.0
3	张旋	西安电子科技大学计算机科学与技术学院	28	27	3.0	4.0