X波段RCS跟踪测量系统不确定度分析

• 作者: 周钰鑫 宋广 沈鹏
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 雷达散射截面积测量 测量系统 不确定度
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 59-62
• 页数: 4页
• 分类号: TN095
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1701345

摘要

为更好地评估外场动态X波段RCS跟踪测量系统的性能及其RCS测量数据的质量,在不确定度分析与RCS测量原理的基础上,对RCS测量过程中来自于雷达系统、环境因素、标校系统3个方面的不确定度影响因素进行了全面分析,研究确立了系统不确定源,并结合具体的测量条件给出了系统的不确定度,从而可以全面地掌握该测量数据的质量和精度,为更好地描述该测量系统的测量结果提供了支撑.同时所提出具体的不确定度分析方法可结合其他测量条件同样展开,具有广泛的通用性和适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋广		2	0	0.0	0.0
2	沈鹏		3	0	0.0	0.0
3	周钰鑫		1	0	0.0	0.0