嵌入式高速存储器中数据质量控制方法分析

• 作者: 郭杰
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: FLASH存储器 数据质量控制 损耗均衡算法 ECC校验算法
• 年，卷（期）: 2019,（18）
• 所属期刊栏目: 可编程器件应用
• 页码范围: 118-122
• 页数: 5页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1902832

摘要

为提升Flash存储器中的数据质量水平,达到SOC芯片对大容量数据高速率、可靠性的存储需求,首先介绍了嵌入式Flash高速存储器的应用性能及基本构成,并透过FLASH存储器中数据坏块和位交换故障对数据存储质量的影响性,引入基于阈值控制的损耗均衡算法,将损耗均分至不同的物理块上,控制坏块发生率;同时,融合ECC校验算法对发生位交换故障的数据进行修正.研究发现,损耗均衡算法通过将各数据块的擦除次数达到近似均衡,延长了Flash存储器的使用寿命,而ECC通过写校验码和读校验码的异或运算,便可实现对错误数据的纠正,两种算法的流程简单、可操作性强,可对Flash存储器数据质量进行有效控制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭杰		18	33	3.0	3.0