温差对绝缘子污层受潮过程的影响

• 作者: 周志成 王凯琳 王黎明 赵晨龙 高嵩
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 温差 受潮过程 表面电导率 泄漏电流 闪络预警 状态评估
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 电介质与电气绝缘
• 页码范围: 136-143
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20181229012

摘要

为了具体研究温差对污层受潮程度的影响,以实现更准确的状态评估与闪络预警,论文开展了一系列相关的试验.首先通过预试验确定了能良好展现影响结果的各项试验方法与条件;然后通过玻璃平板的污秽受潮试验,研究了温差在不同环境湿度下对污层受潮过程的影响;最后从污层吸水量变化的角度分析,拟合得到了在可溶盐污秽成分为NaC1时,表面电导率最大值与温差和湿度之间的关系式.结果表明:温差的存在会对受潮程度产生影响,且影响程度与温差大小和环境湿度有关.研究表明根据当前环境条件与表面电导率值,可以得到绝缘子表面真实的污秽状态,从而为后续的状态评估与闪络预警提供基础.