基于覆盖率驱动的SD-HOST的UVM验证

• 作者: 赖琳晖
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 验证 覆盖率 SD-HOST
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造
• 页码范围: 25-27
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 3532字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2019.09.010

摘要

基于覆盖率驱动的验证,介绍SD-HOST的结构,划分SD-HOST的验证功能点.研究SD卡初始化过程并且完成了对应的测试案例的编写,搭建基于覆盖率驱动的SD-HOST的UVM验证平台.运行了大量随机和直接测试案例,给出SD卡单块读测试的仿真结果,以及完整的覆盖率统计结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖琳晖		1	1	1.0	1.0