乱序超标量多核处理器的验证方法

• 作者: 陈国华
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路设计 处理器验证 体系结构寄存器 多级缓存
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TN402|TP332
• 字数: 3220字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2019.09.006

摘要

验证是芯片设计的关键环节,尤其对于高复杂度的处理器.阐述通用的处理器验证环境,紧密结合处理器设计中的关键点,提出了基于体系结构寄存器和多级缓存的验证原则,该方法应用于自主设计的X86通用处理器.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈国华		1	0	0.0	0.0