TC4管件端口电磁校形的实验研究

• 作者: 朱树峰 李聪 王哲峰 聂鹏
• 来源期刊: 机械设计与制造
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁校形 TC4 低导电率材料 管件端口圆度 校形效果
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 数控与自动化
• 页码范围: 135-138
• 页数: 4页
• 分类号: TH16|TG391
• 字数: 2952字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3997.2019.07.034

摘要

由于钛合金室温下成形性能差,航空领域一直存在对TC4管件端口校形难的问题.针对此问题对TC4管件端口电磁校形的过程进行了研究,采用该方法对内径23mm,壁厚1mm的TC4管件进行电磁校形实验,并将管件端口的圆度作为评价指标,研究了放电电压、线圈层数、放电次数及驱动片厚度对钛管电磁校形的影响.研究表明:提高放电电压可有效提高校形效果,当放电电压一定时,可通过增加线圈层数来提高校形精度;放电次数可以解决放电电压低,钛管变形小的问题,两次放电后校形效果提升不明显,增加放电次数无法从根本上提高管件电磁校形的精度;驱动片厚度的合理选择对TC4等低导电率材料的电磁校形具有重大意义,厚度过小与过大都会影响电磁校形的效果,其最优为趋肤深度厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂鹏	沈阳航空航天大学航空制造工艺数字化国防重点学科实验室	50	268	11.0	14.0
5	王哲峰	沈阳航空航天大学航空制造工艺数字化国防重点学科实验室	24	119	7.0	10.0
6	李聪	沈阳航空航天大学航空制造工艺数字化国防重点学科实验室	4	0	0.0	0.0
10	朱树峰	沈阳航空航天大学航空制造工艺数字化国防重点学科实验室	5	1	1.0	1.0