推进剂贮箱结构失效概率研究

• 作者: 段永胜 赵继广 辛腾达 韩向阳
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 航空航天
• 关键词: 推进剂贮箱 有限元仿真 失效概率 可靠度 量化分析
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 航空航天领域仿真
• 页码范围: 31-35,39
• 页数: 6页
• 分类号: V421.3+3
• 字数: 3231字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9348.2019.11.010

摘要

为研究偏二甲肼推进剂贮箱在静态长储状态下,结构失效概率的量化分析.在对贮箱进行应力分析的基础上提取出最大等效应力数据,采用有限元分析软件ANSYS建立了贮箱Y形环的有限元分析模型.利用PDS概率设计模块和蒙特卡罗方法,选择贮箱的载荷、弹性模量等各种设计参数作为随机输入变量,建立并执行可靠性分析文件.由仿真结果可知,Y形环是贮箱最可能泄漏的位置,其失效概率为0.7％,其中Y形环熔合区厚度对可靠性结果影响最大.仿真分析得到了比传统贮箱泄漏风险模糊评价精度更高的量化分析结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	辛腾达		6	1	1.0	1.0
2	韩向阳		5	1	1.0	1.0
3	赵继广		9	19	2.0	4.0
4	段永胜		5	0	0.0	0.0