基于程序频谱的缺陷定位方法

• 作者: 余晓菲 张仕 蒋建民 蔡蕊
• 来源期刊: 计算机系统应用
• 关键词: EP*方法 缺陷定位 程序频谱 测试用例 定位效果
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 软件技术·算法
• 页码范围: 188-193
• 页数: 6页
• 字数: 4832字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15888/j.cnki.csa.006701

摘要

软件测试是生产可靠软件的重要保障,对测试所发现缺陷的解决可以分为缺陷定位和缺陷修改两个步骤[1],其中的缺陷定位是最耗时的.通常情况下,测试套件中成功执行的测试用例都占绝大多数,对基于程序频谱的缺陷定位方法,应该具备自主调节成功测试用例覆盖比重的能力,以提高方法的可用性.即,随着语句被成功测试用例覆盖的次数增多,该语句的覆盖次数对怀疑率的贡献度应逐渐减小,成功测试用例数的有效处理能提高缺陷定位方法的效果.基于此,本文提出EPStar(EP*)缺陷定位方法,该方法可以有效调整成功执行用例数的影响,以避免成功用例数量对缺陷定位效果的过度影响,从而提高缺陷定位的准确性,通过实验对比,说明了EP*方法比现有的几种缺陷定位方法具有更高的缺陷定位精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张仕	福建师范大学数学与信息学院	21	116	4.0	10.0
5	余晓菲	福建师范大学数学与信息学院	4	7	2.0	2.0
6	蒋建民	福建师范大学数学与信息学院	10	11	2.0	3.0
10	蔡蕊	福建师范大学数学与信息学院	3	3	1.0	1.0