基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台的设计与实现

• 作者: 刘继祥 李凯 钱宏文
• 来源期刊: 通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: ADC LabVIEW 通用 ZYNQ
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 2829-2833
• 页数: 5页
• 分类号: TP23
• 字数: 1290字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0802.2019.11.043

摘要

目前国内的ADC测试系统只针对某一单款或几款ADC芯片进行设计,缺少通用的ADC测试平台.因此,提出了一种基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台,包含ADC可调电源、数据采集电路及上位机3部分,可以实现对不同电压、不同接口的ADC进行测试.对比芯片厂家的datasheet文件,最终验证了本测试平台对于高速高精度ADC动态性能参数测试的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李凯		11	35	3.0	5.0
2	钱宏文		21	44	4.0	6.0
3	刘继祥		3	1	1.0	1.0