密集环境下无源超高频系统RFID标签识别性能研究

• 作者: 刘芳 彭亚文 李达 燕怒 肖梦帆 韩冬桂
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 射频识别 无源标签 密集环境 互耦效应 雷达散射截面 最大识别距离
• 年，卷（期）: 2019,（14）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 18-21,26
• 页数: 5页
• 分类号: TN975-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2019.14.005

摘要

密集环境中标签间互耦效应会对标签识别性能产生重要影响.该文以密集环境下超高频射频识别系统中的无源双标签为研究对象,基于天线散射理论并利用高频电磁场仿真软件HFSS分析不同标签间距下互耦模型的输入阻抗,以及标签天线在不同负载条件下的单站雷达散射截面RCS,得到密集环境下标签天线的最大识别距离,并通过实验验证了计算结果.研究结果将有助于优化标签天线设计,提高密集环境下的标签识别性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘芳	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	17	15	2.0	3.0
2	燕怒	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	14	18	2.0	3.0
3	李达	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	3	2	1.0	1.0
4	韩冬桂	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	7	3	1.0	1.0
5	肖梦帆	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0
6	彭亚文	武汉纺织大学机械工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0