基于ICP-OES法测定工业硅中铁含量的不确定度评定

• 作者: 李建国 殷林涛 熊明方 魏新华 黄建新
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 工业硅 ICP-OES 铁含量 不确定度
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 误差与不确定度
• 页码范围: 112-115
• 页数: 4页
• 分类号: TB9
• 字数: 3288字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2019.1.040

摘要

介绍了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定工业硅中铁的检测过程.阐述了测定过程不确定度的主要来源,对各不确定度分量进行了量化计算,得出合成标准不确定度、扩展不确定度及测定结果的置信区间.发现测量重复性和工作曲线变动性是引起不确定度的主要因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建国		4	2	1.0	1.0
2	魏新华		3	1	1.0	1.0
3	黄建新		1	0	0.0	0.0
4	殷林涛		1	0	0.0	0.0
5	熊明方		1	0	0.0	0.0