单通道双谱紫外放电图像量化分析方法

• 作者: 翟世强 马立新
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外成像法 OpenCV 单通道双谱 自适应中值滤波算法
• 年，卷（期）: 2019,（16）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 133-137
• 页数: 5页
• 分类号: TN014
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1902757

摘要

为防止电晕放电带来的危害,需要对高压设备进行放电检测,采用日盲紫外成像法并利用开源计算机视觉库(OpenCV)对紫外图像量化分析,提取放电区域的量化参数,达到能量化分析放电量的目的.系统采用一种新的结构,利用单通道双谱紫外放电检测系统,其结构简单且成本较低;利用OpenCV相关函数,将紫外放电图像灰度化、二值化处理;采用一种自适应中值滤波(AMF-PDE)算法对放电图像进行滤波,提取了放电区域面积、周长等量化参数.最后进行对比实验,验证了放电量与光斑面积的正相关关系;同时,实验结果表明,观测距离与放电区域光斑面积呈幂函数关系.研究结果可作为一种新的方法来量化分析电器设备的放电量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马立新		146	650	11.0	17.0
2	翟世强		1	0	0.0	0.0