应用于软件缺陷预测模型的量子粒子群优化BP算法

• 作者: 莫有印
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 软件缺陷 预测模型 量子粒子群 BP算法 交叉验证 预测精准性
• 年，卷（期）: 2019,（15）
• 所属期刊栏目: 测控与自动化技术
• 页码范围: 127-130,133
• 页数: 5页
• 分类号: TN911.1-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2019.15.032

摘要

软件缺陷检测的主要目的是对程序模块中是否存在缺陷进行自动检测,以此有效促进软件的测试进程,使软件系统质量得到提高.针对传统软件缺陷预测模型的问题,提出在软件缺陷预测模型中使用粒子群优化BP算法.此模型使用粒子群优化算法对BP神经网络权值及阈值进行优化,通过交叉验证方法实现实验,并且同传统机器学习方法及BP神经网络等方法进行对比,实验结果表明提出的方法预测精准性比较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	莫有印		5	3	1.0	1.0