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摘要:
本文主要对P型单晶硅片进行电化学刻蚀,通过改变电流密度和腐蚀时间来控制多孔硅的孔隙度及多孔层厚度.实验结果表明,随着腐蚀时间与电流密度的增加,多孔硅的孔隙度逐渐增大,多孔层厚度逐渐增加.采用电流-时间调制,制备出一维多孔硅光子晶体,通过扫描电子显微镜测试其形貌.
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文献信息
篇名 多孔硅的特性研究及一维多孔硅光子晶体的制备
来源期刊 大科技 学科 工学
关键词 多孔硅 电化学腐蚀 孔隙度 多孔层厚度 一维多孔硅光子晶体
年,卷(期) 2019,(3) 所属期刊栏目 研究园地
研究方向 页码范围 267-268
页数 2页 分类号 TN304
字数 1852字 语种 中文
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电化学腐蚀
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