ED-XRF荧光分析仪在姑山矿的应用

• 作者: 徐佺
• 来源期刊: 现代矿业
• 关键词: EDX荧光分析仪 分析误差 基体效应 解决方案
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 材料·装备
• 页码范围: 191-193
• 页数: 3页
• 字数: 3819字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6082.2019.09.057

摘要

为了使能量色散X射线荧光分析技术在矿山多元素含量检测中得到更好地应用,针对检测结果受元素基体效应、环境因素、操控因素等影响较大的问题,通过该技术在姑山矿的长期应用实践,对产生测量误差的诸多影响因素进行了较全面的剖析并提出了有效的解决方案,使得这一先进的检测技术在矿山质检工作中发挥更大的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐佺		3	0	0.0	0.0