光照不均环境下的手机外壳缺陷检测研究

• 作者: 张斌 曾碧 林伟
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: 手机外壳 边缘检测 缺陷提取
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 40-42,77
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 2994字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2019.09.014

摘要

针对实际手机外壳图像采集过程中遇到周围环境光照不均导致采集图像不清晰的问题,提出一种适用于光照不均环境下的手机外壳缺陷检测方法.首先用图像二值化、灰度化、图像修正旋转等算法对采集到的图像进行图像预处理,提取手机外壳主轮廓,然后利用双阈值的改进Bensern二值化算法对图像进行去光照影响处理,再采用自适应边缘检测Canny方法进行缺陷轮廓提取.最后提取缺陷感兴趣区域,并用轮廓绘制算法标记缺陷轮廓的大小.实验表明,该方法缺陷提取准确率高,实用性强,具有良好的检测效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾碧	广东工业大学计算机学院	106	646	12.0	19.0
2	林伟	广东工业大学计算机学院	24	129	6.0	11.0
3	张斌	广东工业大学计算机学院	6	8	1.0	2.0