基于V93000 ATE的随机数采集检测方法

• 作者: 唐丽 唐昱 邹映涛 陆建
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 随机数 随机数采集 随机数检测 V93000
• 年，卷（期）: 2019,（24）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 字数: 1772字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2019.24.013

摘要

随机数器件是一种广泛应用于信息安全领域的重要半导体器件,随机数测试是判定随机数器件质量好坏的重要手段,随机数测试通常是基于板级的随机数采集和检测.本文实现了一种基于V93000测试仪的随机数采集检测方法,文中对ATE的随机数采集检测原理和具体方法进行了介绍,同时还提供了ATE随机数采集检测实例,进一步介绍该了方法的实现过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐丽		3	5	1.0	2.0
2	邹映涛		4	5	1.0	2.0
3	唐昱		4	5	1.0	2.0
4	陆建		1	0	0.0	0.0