一种基于边界扫描的系统化SiP测试方法

• 作者: 张凯红 王圣辉 苏洋 陆锋
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 边界扫描 测试向量 测试算法 互连测试 SiP测试
• 年，卷（期）: 2019,（21）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 56-58,74
• 页数: 4页
• 字数: 2672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2019.21.016

摘要

随着集成电路技术快速发展,芯片的集成度和密度越来越大,体积和功耗越来越小,IC领域提出了一种新型的超摩尔定律的芯片设计思路——系统级封装(System in Package,SiP).要在有限的芯片管脚下完成对整个SiP电路系统的测试变得极具挑战,急需寻求一种新的测试方法.为此,文中提出了一种基于边界扫描测试方法,在严格遵循紧凑性和完备性的指标下,通过对现有自适应算法中快速生成测试矩阵算法的优化,完成SiP芯片的互连测试.对比分析优化前后各算法的混淆率和紧凑性指标,验证了使用低权值的等权值算法能有效地提高测试的性能.测试的仿真结果表明,基于边界扫描测试的低权值的等权值算法可以满足SiP的测试需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆锋	江南大学物联网工程学院	19	27	3.0	4.0
3	苏洋	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	1	1.0	1.0
6	王圣辉	江南大学物联网工程学院	2	0	0.0	0.0
7	张凯红	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	0	0.0	0.0