基于线阵CCD的新型纠偏检测方法

• 作者: 吕旭悦 蔡锦达
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 工学
• 关键词: 线阵CCD 成像 纠偏
• 年，卷（期）: 2019,（19）
• 所属期刊栏目: 机械与过程控制
• 页码范围: 216-222
• 页数: 7页
• 分类号: TB486
• 语种: 中文
• DOI: 10.19554/j.cnki.1001-3563.2019.19.032

摘要

目的 为了提高包装机纠偏控制的精度和通用性,提出一种纠偏检测方法.方法 采用两路线阵CCD成像,并比较两者CCD信号,判断材料在工作过程中是否发生跑偏现象,然后通过控制器进行纠偏操作.结果 两路CCD灰度值显著变化的像元位置表明了带材的边缘位置,通过两像元的差值即可判断带材是否发生跑偏,方案可行.结论 相较于以往的CCD的检测方法,该方法稳定性和精度均有所提高,并且当材料的宽度在一定范围内变化时,纠偏装置仍可以工作,而不需要其他操作,通用性也有一定提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡锦达		109	525	12.0	19.0
2	吕旭悦		1	0	0.0	0.0