薄膜电池封装膜弯曲疲劳寿命检测仪的研制

• 作者: 孙权 徐晓斌 施正浩 鹿业波
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜电池 弯曲角度 弯曲次数 疲劳
• 年，卷（期）: 2019,（21）
• 所属期刊栏目: 机械与过程控制
• 页码范围: 222-227
• 页数: 6页
• 分类号: TB383
• 语种: 中文
• DOI: 10.19554/j.cnki.1001-3563.2019.21.033

摘要

目的 为了可靠地检测薄膜电池封装膜弯曲疲劳寿命,设计并制备一台封装膜弯曲疲劳寿命检测仪.方法 仪器主要由机械运动机构、运动控制系统、固定保护机构等组成,使用此仪器对薄膜电池封装膜进行试验,研究循环弯曲对其的影响;利用有限元仿真,分析薄膜电池弯曲时封装膜内部的应力变化情况.结果 随着弯曲角度的增大,封装膜所受的弯曲应力不断增大;在弯曲循环测试中,随着循环次数的增加,封装膜表面会产生疲劳裂纹,破坏了透明电极的胶合状态,影响了电池的光电性能;获得了封装膜在不同弯曲角度下的疲劳寿命曲线.结论 该检测仪操作方便,基于此仪器进行弯曲疲劳寿命检测可有效提高薄膜电池封装的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鹿业波		17	20	2.0	4.0
2	孙权		9	5	1.0	2.0
3	徐晓斌		2	0	0.0	0.0
4	施正浩		2	0	0.0	0.0