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基于MCU的极限物位检测装置研究设计
基于MCU的极限物位检测装置研究设计
作者:
张雄
朱兆优
赖云波
陈贵跃
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
物位检测
单片机
智能控制
摘要:
本文以振动式物位检测为实际需求出发,研究了该物位检测装置总体技术方案,设计了一种以IAP15W4K58S4单片机为核心的上、下限位检测装置.该系统能够采集信息并进行分析处理,完成驱动、检测和报警等基本功能,从而实现对物位的自动化智能控制.
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文献信息
篇名
基于MCU的极限物位检测装置研究设计
来源期刊
电子测试
学科
关键词
物位检测
单片机
智能控制
年,卷(期)
2019,(21)
所属期刊栏目
设计与研发
研究方向
页码范围
39-40
页数
2页
分类号
字数
1361字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-8519.2019.21.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
朱兆优
东华理工大学机械与电子工程学院
74
320
8.0
16.0
2
陈贵跃
东华理工大学机械与电子工程学院
1
0
0.0
0.0
3
张雄
东华理工大学机械与电子工程学院
3
2
1.0
1.0
4
赖云波
东华理工大学机械与电子工程学院
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引证文献(0)
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物位检测
单片机
智能控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
主办单位:
北京自动测试技术研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-8519
CN:
11-3927/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市100098-002信箱
邮发代号:
82-870
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
总被引数(次)
36145
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