CUNIT白盒测试框架解析和应用

• 作者: 李鑫 郭鹏飞 韦浩睿 马占宾 马晓轩
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: Cunit 白盒测试
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 通信设计与应用
• 页码范围: 128-129
• 页数: 2页
• 分类号: TM644
• 字数: 1277字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4222.2019.12.080

摘要

Cunit是一款C语言白盒测试框架,产品C语言编码完成后,编码人员可以采用该工具进行白盒测试,尽早发现和低成本解决问题,但使用该工具必须熟悉工具框架结构和运行原理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦浩睿		4	4	1.0	2.0
2	马占宾		2	5	1.0	2.0
3	李鑫		2	0	0.0	0.0
4	郭鹏飞		1	0	0.0	0.0
5	马晓轩		1	0	0.0	0.0