IC测试系统升级的重要性

• 作者: 陈燕丽
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 芯片测试 系统升级
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 通信设计与应用
• 页码范围: 115-116
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 字数: 3334字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4222.2019.09.075

摘要

通过对芯片测试的两种系统进行对比,讨论系统升级过程遇到的难点,以及系统升级给芯片测试带来哪些方面的收益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈燕丽		1	0	0.0	0.0