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基于电子设备自动测试系统的通用性设计分析
基于电子设备自动测试系统的通用性设计分析
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摘要：
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机载电子设备通用自动测试系统研究与实现
机载电子设备
通用自动测试系统
仪器驱动程序
测试程序
基于多总线机载电子设备自动测试系统设计
自动测试系统
多总线技术
VXI
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自动测试系统的通用性研究
自动测试系统
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电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
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