MURR分布式I/0产品在西门子840D系统上的应用及抗干扰性研究

• 作者: 王丽芳
• 来源期刊: 世界有色金属
• 学科: 工学
• 关键词: 数控系统 外围环境 干扰源 抗干扰
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 综合
• 页码范围: 280,283
• 页数: 2页
• 分类号: TM45
• 字数: 1090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5065.2019.07.167

摘要

分析了环境以及周围干扰源对数控系统稳定性的影响,并对增强数控系统干扰性能的有效措施进行了阐述;针对MURR产品在数控系统上的实际应用,分别从硬件和软件及其它措施方面给出了解决方法.