外电场对HMX/DMI共晶感度影响的理论研究

• 作者: 朱顺官 潘勇 王金鹏 翟颠颠 蒋军成 马丛明 马鹏
• 来源期刊: 火炸药学报
• 关键词: 量子化学 HMX/DMI 共晶 外电场 电子密度 分子表面静电势 引发键 高能量密度材料
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 页码范围: 133-138
• 页数: 6页
• 分类号: TJ55|O641
• 语种: 中文
• DOI: 10.14077/j.issn.1007-7812.201905022

摘要

为研究外电场对共晶含能材料HMX/DMI感度的影响,分别采用DFT-B3LYP-D3、M06-2X-D3和ωB97XD方法,在6-311+G(d,p)水平下,对HMX/DMI的稳定构型施加±0.005a.u.、±0.010a.u.、0.00a.u.的外电场,分析了电子密度转移、硝基基团电荷、分子表面静电势及引发键变化.结果 表明,施加正向外电场时,电场强度越大,炸药感度越高.施加负向外电场时,电场强度越大,炸药感度越低;随着负向外加电场的增强,引发键电子云密度越大,引发键强度增大,导致HMX/DMI感度降低;负向外加电场增加,硝基基团所带负电荷由0.126e增至0.325e,感度降低;分子表面静电势研究分析表明,施加负向电场时,分子表面静电势增大,共晶感度降低;引发键变化分析表明,负向外加电场强度增加,引发键键长由0.1386nm降至0.1367nm,引发键键解离能由180.252 kJ/mol增加到180.782 kJ/mol,共晶化合物感度降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋军成	南京工业大学安全科学与工程学院	372	4415	33.0	47.0
2	朱顺官	南京理工大学化工学院	69	437	10.0	18.0
3	潘勇	南京工业大学安全科学与工程学院	54	290	9.0	12.0
4	马鹏	南京工业大学安全科学与工程学院	7	0	0.0	0.0
5	王金鹏	南京工业大学安全科学与工程学院	4	0	0.0	0.0
6	翟颠颠	南京工业大学安全科学与工程学院	1	0	0.0	0.0
7	马丛明	南京工业大学安全科学与工程学院	4	1	1.0	1.0