一种多通道端口有源阻抗参数测试的方法

• 作者: 游世娟 秦梅 郭海帆 陈建华 陈鑫友
• 来源期刊: 电子信息对抗技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵天线 有源阻抗测试 多通道端口
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 天线技术
• 页码范围: 76-79
• 页数: 4页
• 分类号: TN821.8
• 字数: 2317字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2230.2020.01.017

摘要

相控阵天线在扫描工作状态下各辐射单元的端口阻抗参数,即有源阻抗参数是描述相控阵特性的一个重要指标.介绍了一种多通道端口有源阻抗参数测试的方法,从实现方案、射频链路、测试原理等方面做出了分析,为相控阵天线多路通道的端口参数在工作状态下的测试提供了一种技术手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈建华		1	0	0.0	0.0
2	郭海帆		1	0	0.0	0.0
3	秦梅		1	0	0.0	0.0
4	游世娟		1	0	0.0	0.0
5	陈鑫友		1	0	0.0	0.0