一种应用于Sx127x系列LoRa模组的射频检测方案

• 作者: 戚道才 朱信臣 沈伟 潘守彬 赵志浩
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: LoRa模组 Sx127x LoRa量产化
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 12-14
• 页数: 3页
• 分类号: TN919.72
• 字数: 1466字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0104

摘要

5G技术的发展推动了物联网技术的应用,LoRa凭借低功耗、远距离、自组网的优势,成为物联网无线通信技术的优选方案.市场对LoRa模组的需求大增,但由于LoRa射频模组在量产化过程中,射频性能的检测需依赖专业的射频检测仪器以及自动化测试程序,导致模组生产效率下降,生产成本增加.根据芯片RSSI参数的线性规律,设计出一种应用于Sx127x系列LoR模组的射频检测方案,通过与标准的仪器检测结果对比,测量误差在允许范围内,该方案有效降低了检测成本,提升了检测效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戚道才		1	0	0.0	0.0
2	沈伟		1	0	0.0	0.0
3	潘守彬		1	0	0.0	0.0
4	朱信臣		1	0	0.0	0.0
5	赵志浩		1	0	0.0	0.0