霍尔效应法永磁体表面磁场强度分布的测试

• 作者: 孙梦翔 王顺杰 谢志斌 陈杭武
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 永磁体 霍尔效应 表磁分布 测试
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 28-30,34
• 页数: 4页
• 分类号: TG132.2+72
• 语种: 中文
• DOI: 10.16786/j.cnki.1671-8887.eem.2020.03.008

摘要

永磁体广泛应用于能源、交通、家电、医学等众多领域,表面磁场强度是永磁体重要的磁性能参数之一,测量的准确与否直接影响着产品的质量与应用前景.目前,磁材组件表面磁场强度测试常用的是霍尔效应法,由于配套的霍尔探头存在着无具体封装尺寸等技术缺陷,导致永磁体表面磁场强度的测量数据失去可比性.