电力控制系统中CCGA失效预测分析

• 作者: 刘鼎 张有晶 王辰宇
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 陶瓷柱栅阵列 焊点空洞率 失效预测 神经网络
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 微组装技术 SMT PCB
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 字数: 2172字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2020.01.012

摘要

陶瓷柱栅阵列在一些高性能电力控制系统中具有非常重要的作用,其焊点可靠性直接影响控制系统的性能及可靠性.通过建立双参数的人工神经网络失效预测模型,形成具有普遍适用性的陶瓷柱栅阵列焊点空洞率预测方法.设计了陶瓷柱栅阵列焊点失效试验的方案,并对试验数据结果进行了初步的分布特点与统计特征分析.结合得到的数据结果,对神经网络模型进行双参数特征的训练,将模型的预测结果与单变量特征预测方法进行对比,并将预测模型应用于实际生产中,验证了该预测模型的有效性和优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘鼎		4	6	1.0	2.0
2	王辰宇		2	2	1.0	1.0
3	张有晶		1	0	0.0	0.0