高精度磁光调制方位角测量技术研究

• 作者: 李忠 陈奥
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 磁光调制 维尔德常数 磁场分布 方位角测量 数字信号处理
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 47-52
• 页数: 6页
• 分类号: TN761
• 语种: 中文

摘要

工程领域对高精度方位角测量的迫切需求使得磁光调制方位角测量技术成为当前国内方位角度测量领域的重点研究方向之一.介绍了磁光调制方位角测量技术的基本原理,分析了国内外在提高方位角测量精度、减少测角同步时间和数据处理方面做出的研究进展,并探讨了技术发展趋势.对于发展方位基准传递研究所需的方位角高精度测量技术和装置具有参考价值.