关于接触压力影响RF类连接器接触电阻测试精度的问题分析

• 作者: 孙杰明 杨静静
• 来源期刊: 空间电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 误差分析 最小二乘法 影响因素 失效分析
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 微波技术
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TM501.3
• 字数: 2359字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2020.03.008

摘要

随着国家对国防事业的逐渐重视,电子元器件的可靠性也逐渐成为国防工程系统中的重要基石之一,不论在宇航还是军工,不论是航天器还是船舶载具,如何保证其在复杂环境下的可靠性,逐渐成为了评判电子元器件好坏的重要指标.文章中以最小二乘法为基础,从数字角度对接触压力与RF类连接器接触电阻测试过程中的影响关系进行了量化计算,从测试原理和实践操作两个角度出发对RF类连接器接触电阻测试中的相关误差进行分析,从而使相关操作人员明确试验过程中可能出现的误差及其对试验测试数据的影响程度,从而更好的保证试验数据的真实有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨静静	中航富士达科技股份有限公司泰斯特实验室	1	0	0.0	0.0
2	孙杰明	中航富士达科技股份有限公司泰斯特实验室	1	0	0.0	0.0