热像仪盲元替换和两点校正方法的研究

• 作者: 张永洁 李汝劼 程海娟 袁洁莹
• 来源期刊: 云光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自研成像电路热像仪 盲元替换 两点校正
• 年，卷（期）: ygjs,（2）
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TN2

摘要

目前热像仪采用的成像电路,盲元问题不可避免。盲元率过高会导致图像效果差,探测器淘汰率高等问题。业内普遍采用盲元替换和两点校正方法进行图像处理。盲元替换方法实际上是把许多响应率低的“弱元”当做盲元替换掉了,会造成图像质量下降,并且该方法对探测器的本底盲元数量有极高要求;两点校正方法多采用在高低温试验箱中分别做各个温度点的两点校正,该方法耗时长、成本高。本文提出的特色操作法可以有效提高成像电路热像仪的图像效果、减少热像仪装配过程中消耗的时间,更重要的是使成像电路热像仪在没有黑体和高低温试验箱的外场条件下的维修得以实现。