双模随机交错晶场中最近邻弱交换相互作用对重入现象的影响

• 作者: 李晓杰 王渺渺 李新军 刘萍 陈文龙
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 重入现象 磁化强度 有效场理论 Blume-Capel模型 纳米管
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 页码范围: 38-44
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13380/j.ltpl.2020.01.005

摘要

利用有效场理论研究了双模随机交错晶场中混合自旋Blume-Capel模型纳米管系统的重入现象,发现了系统的重入现象与晶场取值概率、晶场强度和外壳层与内壳层格点间最近邻交换相互作用的关系.结果 表明:取值概率、交换相互作用、晶场强度和温度等诸多因素相互竞争,使系统表现出丰富的磁化现象:正(负)晶场较弱时,系统只发生二级相变;随着正(负)晶场增强,系统的二级相变消失,呈现一级相变;一定条件下,系统会出现重入现象.