引信强电磁脉冲效应仿真与评估方法

• 作者: 冯恒振 娄文忠 杨金刚 郑福泉
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 引信 强电磁脉冲 效应 评估
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 页码范围: 21-24,28
• 页数: 5页
• 分类号: TN014
• 语种: 中文

摘要

强电磁脉冲(高功率微波)武器作为新机理定向能武器,成为引信、火工品及制导系统等的最大威胁,越来越受到军事强国的高度关注.为明确引信壳体对强电磁脉冲的屏蔽效果及引信电子系统的干扰、损伤阈值,利用CST微波工作室对引信壳体防护效能进行仿真,并且以引信壳体及其电子系统为对象进行辐照试验.通过仿真分析和试验验证可知,仿真结果显示引信壳体对电场衰减为27.9 d B.试验结果显示电子系统在壳体防护下,电场强度小于45 kV/m时均能正常工作,在没有防护情况下,当强电磁脉冲电场强度峰值达15 kV/m时,芯片会产生重启复位,使引信起爆出现故障;当场强达50 kV/m时芯片有一定概率会被永久损坏.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	娄文忠	北京理工大学机电学院	39	156	7.0	10.0
2	郑福泉	北京理工大学机电学院	2	0	0.0	0.0
3	杨金刚		3	4	1.0	2.0
4	冯恒振	北京理工大学机电学院	1	0	0.0	0.0