原文服务方: 电子质量       
摘要:
统计过程控制(SPC)是质量管理中一种常用的工具,但由于高可靠微电子元器件生产企业绝大部分都是多品种、小批量生产,工序常规的SPC模型已经不能对这类生产型企业工序状态进行有效的监控.该文着重探讨分析一种嵌套回归SPC模型,这种SPC模型更适合成本较高的多品种、小批量生产模式,即能降低分析控制成本,又能很好地解决多品种、小批量生产统计过程控制所需数据不足的问题.
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小批量生产
工序管控
批量管理
数据采集
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文献信息
篇名 面向多品种、小批量微电子制造过程的SPC技术应用研究
来源期刊 电子质量 学科
关键词 微电子制造 统计过程控制 低成本
年,卷(期) 2020,(1) 所属期刊栏目 理论与研究
研究方向 页码范围 5-8
页数 4页 分类号 TN305
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2020.01.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡锐 7 17 3.0 3.0
2 刘岗岗 1 0 0.0 0.0
3 唐拓 1 0 0.0 0.0
4 卢辉昊 1 0 0.0 0.0
传播情况
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2020(0)
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研究主题发展历程
节点文献
微电子制造
统计过程控制
低成本
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
6824
总下载数(次)
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