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摘要:
二硫化钼(MoS2)作为一种代表性的半导体二维原子晶体材料,具有优异的物理及电学特性,这使其在光电器件尤其是逻辑器件的应用中具有广泛的前景.总结了MoS2的表面电荷转移掺杂和替位掺杂,并分析了不同掺杂方法的优劣,同时介绍了降低费米能级钉扎效应的两种接触电阻的优化方法.依据肖特基理论改变金属功函数可以调节金属与MoS2的肖特基势垒高度,但由于金属与MoS2之间存在费米能级钉扎效应,接触时会产生较大的肖特基势垒,降低载流子的发射效率,从而增加金属与MoS2之间的接触电阻.最后,指出MoS2器件接触电阻的研究趋势并展望了MoS2的应用前景.
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文献信息
篇名 二硫化钼场效应晶体管金属接触的研究进展
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 二硫化钼(MoS2) 场效应晶体管 二维晶体材料 金属-半导体接触 功函数
年,卷(期) 2020,(2) 所属期刊栏目 器件与技术
研究方向 页码范围 109-118
页数 10页 分类号 TN386.3
字数 语种 中文
DOI 10.13250/j.cnki.wndz.2020.02.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 田汉民 河北工业大学电子信息工程学院电子材料与器件天津重点实验室 24 41 4.0 5.0
2 张亚东 河北工业大学电子信息工程学院电子材料与器件天津重点实验室 2 0 0.0 0.0
6 贾昆鹏 中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点研究室 4 15 1.0 3.0
7 吴振华 中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点研究室 5 10 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
二硫化钼(MoS2)
场效应晶体管
二维晶体材料
金属-半导体接触
功函数
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