一种XILINX7系列FPGA的抗单粒子翻转加固技术

• 作者: 孙逸帆 滕树鹏 王佳 王冠雄 鲍迪
• 来源期刊: 航天标准化
• 关键词: SEU(单粒子翻转) SRAM型FPGA 抗辐加固 回读刷新
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性技术
• 页码范围: 40-44
• 页数: 5页
• 字数: 2991字
• 语种: 中文

摘要

为解决XILINX公司7系列FPGA受SEU(单粒子翻转)的影响,采用一种基于软件错误缓解IP核(SEM IP)的新型回读刷新技术,使用SEM IP的故障注入方法并进行故障注入实验及单粒子实验.实验证明,该技术可在FPGA配置位流数据结构未知的情况下,以帧为单位对XILINX 7系列FPGA的配置位流进行比对及纠错,从而实现抗SEU加固.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王佳		5	9	1.0	3.0